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高低溫探針臺用于傳感器半導(dǎo)體光電測試設(shè)備 用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。

高?？蒲袑嶒炇腋叩蜏靥结樑_半導(dǎo)體測試儀器 可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。

錦正茂科技定制高低溫探針臺 高低溫探針臺T8-LY100能夠為半導(dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個80K-420K高低溫測試環(huán)境，通過外接不同的電學(xué)測量儀器，